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电阻RAM(ReRAM)
来源:薄膜压力传感器压力分布 | 发布时间:2023/6/15 17:39:28 | 浏览次数:

在非易失性存储器(NVM)中,闪存是事实上的标准,随着行业不断向更先进的节点扩展,对更先进技术的需求变得紧迫。闪存的局限性越来越明显,尤其是对于大多数应用来说,将闪存嵌入28nm以上的SoC在经济上是不可行的。

 

新兴的存储器技术,如电阻RAM(ReRAM)、相变存储器(PCM)、磁阻RAM(MRAM)和铁电RAM(FRAM),为浮栅存储器器件提供了一种替代方案,并且可以更容易地扩展到高级几何结构。这些技术在成本、复杂性、功率、性能和其他关键因素方面各有优缺点。提供最佳平衡的技术是ReRAM,它正在成为替代闪存的领先候选者,用于广泛的应用。

 

ReRAM技术将在未来12个月内开始进入市场。这项技术是广泛应用的理想NVM,但由于ReRAM的推出(将以相当低的密度开始),以及终端市场的趋势,如新兴应用的成本驱动因素、性能和功率目标以及认证要求,采用的时间表各不相同。

 

在这里,我们将讨论一些我们认为ReRAM将首先获得吸引力的应用程序,以及我们目前对每个应用程序的时间表的想法。

 

未来1年多:电源管理集成电路的雷拉姆

ReRAM将首先立足于电源管理IC(PMIC)和其他模拟/混合信号设计。每个电子设备至少有一个PMIC,用于管理系统内的电力分配。可编程PMIC的市场需求正在增加,以支持无线充电和智能电机控制器的普及等趋势。这些设备的PMIC必须是智能的,并且能够运行多种算法,因此它们需要低功耗、可编程和可现场升级的微控制器(MCU)和NVM。

 

今天的解决方案通常基于一个单独的MCU芯片,其NVM与PMIC并列。然而,为了降低成本和功率,有一种趋势是将PMIC、MCU和NVM集成在更先进的几何形状的单个管芯上。在130nm以下,嵌入式闪存对于这些应用来说开始过于昂贵,并且也很难集成。这在很大程度上是因为闪存集成在前端线(FEOL),因此公司通常必须在电源/模拟组件上做出妥协,以在同一晶片上容纳闪存。这可能导致性能下降、尺寸增大和成本上升。

 

ReRAM是一种后端线(BEOL)技术(图1),因此它可以用于一个几何体,并且它将与该节点的所有不同变体一起工作,而flash需要适应每个变体。此外,与闪存ReRAM所需的约10个额外掩模相比,仅使用两个掩模加法器具有成本效益,这是大多数IC的明显要求。

 
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