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用压力映射法揭示半导体制造
来源:薄膜压力传感器压力分布 | 发布时间:2016/12/14 15:14:15 | 浏览次数:

电气元件/半导体

用压力映射法揭示半导体制造过程中的接触压力不平衡。

在半导体制造过程中获得的见解

建立和保持接触面之间的均匀度往往是至关重要的,难以实现。对于在半导体制造中的测试和检查,这可能是一个关键因素,以产生更高的质量,或简单的功能性产品。触觉压力映射技术从Tekscan给工程师在这一领域的各种应用程序所需的洞察力。

抛光晶片在抛光过程中的压力分布。

抛光晶片在抛光过程中的压力分布。

与第三方测试设备进行深入的分析

具有多个传感器和电子的多功能系统

微创薄膜传感器

高分辨率传感器的详细分析

在应用条件下收集数据的高温传感器

可定制的传感器

 
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